电子元件的微型化趋势及其在机械工程中的影响是当前科技发展的重要方向之一。一、电子元件的微型化趋势随着科技的飞速发展，电子元件的微型化已成为一种明显的趋势。这一趋势可归结为以下几个关键因素：1. 技术进步：
数字万能表可以使用不同的测量模式来测量电容。下面是两种常见的方法：
1. 直接电容测量模式：将数字万能表的旋钮拨到“电容”模式。将被测电容两端的引线分别连接到数字万能表的两个测试接口上，然后观察数字万能表的显示屏即可读取电容值。
2. RC振荡器测量模式：将数字万能表的旋钮拨到“电感”或“电容电感”模式。将被测电容两端的引线分别连接到数字万能表的测试接口上，并选择对应的频率范围。然后观察数字万能表的显示屏，读取电容值。
需要注意的是，电容测量时必须先将电容器完全放电，避免误判。另外，测量时还要确保电容器没有连接到电源或其他外部电路上，以免影响测量结果。
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